LCP-25 Experimental Ellipsometer Featured Image

LCP-25 Экспериментальный эллипсометр

Краткое описание:

Информация о продукте

Теги продукта

Вступление

Ручной эллиптический поляриметр использует метод экстинкции для измерения толщины и показателя преломления пленки и вручную регулирует отклонение и угол отклонения в процессе испытания. Эллипсометрия широко используется для измерения тонких диэлектрических пленок на твердой подложке. В методе измерения толщины пленки ее можно измерить с самой тонкой и высочайшей точностью.

Характеристики

Описание	Характеристики
Диапазон измерения толщины	1 нм ~ 300 нм
Диапазон углов падения	30º ~ 90º, погрешность ≤ 0,1º
Угол пересечения поляризатора и анализатора	0º ~ 180º
Угловая шкала диска	2º на шкалу
Мин. Чтение Вернье	0,05º
Высота оптического центра	152 мм
Диаметр рабочего этапа	Φ 50 мм
Габаритные размеры	730x230x290 мм
Масса	Примерно 20 кг

Список запчастей

Описание	Кол-во
Эллипсометр	1
He-Ne лазер	1
Фотоэлектрический усилитель	1
Фото Ячейка	1
Пленка кремнезема на кремниевой подложке	1
Компакт-диск с программным обеспечением для анализа	1
Руководство пользователя	1