Аппарат для картирования электрического поля LEEM-3

Краткое описание:

В инженерной технике часто возникает необходимость знать распределение электрического поля в системе электродов для изучения законов движения электронов или заряженных частиц в электрическом поле. Например, для изучения фокусировки и отклонения электронного пучка в осциллографе необходимо знать распределение электрического поля электродов в осциллографе. В электронной трубке необходимо изучать влияние введения новых электродов на движение электронов, а также знать распределение электрического поля. В общем случае, для определения распределения электрического поля можно использовать аналитический метод и метод моделирования эксперимента. Однако аналитическим методом можно получить распределение электрического поля лишь в нескольких простых случаях. Для общих или сложных систем электродов обычно используется метод моделирования эксперимента. Недостатком метода моделирования эксперимента является невысокая точность, но для общего инженерного проектирования он может удовлетворить требованиям.