Изображение экспериментального эллипсометра LCP-25.

Экспериментальный эллипсометр LCP-25

Краткое описание:

Ручной эллиптический поляриметр использует метод гашения для измерения толщины и показателя преломления пленки, при этом вручную регулируются отклонение и угол отклонения в процессе измерения. Эллипсометрия широко используется для измерения толщины диэлектрических тонких пленок на твердой подложке. Этот метод измерения толщины пленки позволяет получать результаты с максимальной точностью и минимальной толщиной.

Отправьте нам электронное письмо

Подробная информация о товаре

Метки товаров

Технические характеристики

Описание	Технические характеристики
Диапазон измерения толщины	1 нм ~ 300 нм
Диапазон углов падения	30º ~ 90º, погрешность ≤ 0,1º
Угол пересечения поляризатора и анализатора	0º ~ 180º
Угловая шкала диска	2º на шкалу
Минимальное чтение Вернье	0,05º
Высота оптического центра	152 мм
Диаметр рабочей площадки	Φ 50 мм
Габаритные размеры	730x230x290 мм
Масса	Примерно 20 кг

Список деталей

Описание	Кол-во
Эллипсометр	1
Гелий-неоновый лазер	1
Фотоэлектрический усилитель	1
Фотоэлемент	1
Кремниевая пленка на кремниевой подложке	1
Программное обеспечение для анализа на компакт-диске	1
Инструкция по эксплуатации	1