Изображение экспериментального эллипсометра LCP-25

Экспериментальный эллипсометр LCP-25

Краткое описание:

Ручной эллиптический поляриметр использует метод экстинкции для измерения толщины и показателя преломления пленки, а также вручную регулирует отклонение и угол отклонения процесса испытания. Эллипсометрия широко используется при измерении диэлектрической тонкой пленки на твердой подложке. В методе измерения толщины пленки она может быть измерена до самой тонкой и самой высокой точности.

Напишите нам письмо

Подробности продукта

Теги продукта

Технические характеристики

Описание	Технические характеристики
Диапазон измерения толщины	1 нм ~ 300 нм
Диапазон угла падения	30º ~ 90º, ошибка ≤ 0,1º
Угол пересечения поляризатора и анализатора	0º ~ 180º
Угловая шкала диска	2º по шкале
Мин. показание нониуса	0,05º
Высота оптического центра	152 мм
Диаметр рабочей поверхности	Φ 50 мм
Габаритные размеры	730x230x290 мм
Масса	Около 20 кг

Список деталей

Описание	Кол-во
Эллипсометрический блок	1
He-Ne лазер	1
Фотоэлектрический усилитель	1
Фотоэлемент	1
Силикатная пленка на кремниевой подложке	1
CD с программным обеспечением для анализа	1
Руководство по эксплуатации	1