Изображение экспериментального эллипсометра LCP-25

LCP-25 Экспериментальный эллипсометр

Краткое описание:

Ручной эллиптический поляриметр использует метод экстинкции для измерения толщины и показателя преломления пленки и вручную регулирует отклонение и угол отклонения в процессе испытания.Эллипсометрия широко используется для измерения тонких диэлектрических пленок на твердой подложке.В методе измерения толщины пленки она может быть измерена с самой тонкой и высокой точностью.

Отправить письмо нам

Информация о продукте

Теги продукта

Характеристики

Описание	Характеристики
Диапазон измерения толщины	1 нм ~ 300 нм
Диапазон угла падения	30º ~ 90º, погрешность ≤ 0,1º
Угол пересечения поляризатора и анализатора	0º ~ 180º
Дисковая угловая шкала	2º по шкале
Мин.Чтение Вернье	0,05º
Высота оптического центра	152 мм
Диаметр рабочей сцены	Φ 50 мм
Габаритные размеры	730x230x290 мм
Масса	Около 20 кг

Список запчастей

Описание	Кол-во
Эллипсометр	1
He-Ne лазер	1
Фотоэлектрический усилитель	1
Фотоэлемент	1
Кремнеземная пленка на кремниевой подложке	1
Компакт-диск с программным обеспечением для анализа	1
Инструкция по эксплуатации	1