LCP-27 Измерение интенсивности дифракции

Краткое описание:

Экспериментальная система в основном состоит из нескольких частей, таких как экспериментальный источник света, дифракционная пластина, регистратор интенсивности, компьютер и программное обеспечение.Через компьютерный интерфейс результаты экспериментов можно использовать в качестве приложения к оптической платформе, а также их можно использовать как отдельный эксперимент.Система имеет фотоэлектрический датчик для измерения силы света и высокоточный датчик перемещения.Линейка решетки может измерять смещение и точно измерять распределение интенсивности дифракции.Компьютер управляет сбором и обработкой данных, а результаты измерений можно сравнить с теоретической формулой.

Отправить письмо нам

Информация о продукте

Теги продукта

Эксперименты

1. Испытание однощелевой, многощелевой, пористой и многопрямоугольной дифракции, закон интенсивности дифракции изменяется в зависимости от условий эксперимента.

2. Компьютер используется для записи относительной интенсивности и распределения интенсивности одиночной щели, а ширина дифракции одной щели используется для расчета ширины одиночной щели.

3. Наблюдение за распределением интенсивности дифракции с несколькими щелями, прямоугольными и круглыми отверстиями.

4. Наблюдать дифракцию Фраунгофера на одной щели.

5.Определить распределение силы света

Характеристики

Вещь	Характеристики
He-Ne лазер	>1,5 мВт при 632,8 нм
Однощелевая	0 ~ 2 мм (регулируемый) с точностью до 0,01 мм
Диапазон измерения изображения	Ширина щели 0,03 мм, расстояние между щелями 0,06 мм
Проективная эталонная решетка	Ширина щели 0,03 мм, расстояние между щелями 0,06 мм
ПЗС-система	Ширина щели 0,03 мм, расстояние между щелями 0,06 мм
Макрообъектив	Кремниевый фотоэлемент
Напряжение питания переменного тока	200 мм
Точность измерения	± 0,01 мм